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MKY-AS2878 低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
MKY-AS2878 低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
低頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、AS2875型介電常數(shù)測(cè)試主機(jī)、組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。
MKY-AS2878 低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
型號(hào) | AS2838 | AS2878 |
工作頻率范圍 | 1KHz～200kHz 精度：±0.01% | 20Hz～1MHz 精度：±0.01% |
電容測(cè)量范圍 | 0.0001pF～99.99mF 五位數(shù)顯 | 0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯 |
電容測(cè)量基本誤差 | ±0.05% | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.0001～9.9999 五位數(shù)顯 | 0.00001～9.99999 六位數(shù)顯 |
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